薄膜弱吸收和温升



bomoxishou

相对弱吸收测试仪

品牌:LZH

型号:PCI-TR

功能:可用常规波长(1064nm)或定制波长进行测试,可测试样品尺寸为3×3×3~50×50×50(mm)的方形或圆形样品;

灵敏度:体吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm(一次测量

可以区分);

测试速度:常规2min/片(相对6mm厚度)


通过测量薄膜的吸收与温升数据,可以判断薄膜受到特定波长激光的影响大小。

吸收采用相对弱吸收测试仪(PCI-TR)进行测量,通过1064nm(或1030nm)的pump光对镜片表面的膜层进行处理,同时采用632nm的探测光对膜层形成的热透镜效应进行探测。通过对探测数据的处理计算出薄膜的相对弱吸收值。通过长期的技术积累,可以做到增透膜吸收值<3ppm,多层膜(layer>30)吸收<5ppm。

温升测量是一种表征薄膜吸收后温度变化的测量方式,更贴合实际的应用场景。测量采用1070nm的激光器,测试使用功率9kW,作用在镜片的平均功率密度46kW/cm2,对需要测量的镜片薄膜进行60s的处理,使用红外相机对激光作用区域进行温度测量,以最高温减镜片初始温度来获得温升数据。通过长期的技术积累,可以做到薄膜温升值<5℃


中国领先的定制化
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上海陶藤电子科技有限公司

Auxcera(上海陶藤电子科技有限公司)创建于2022年,公司位于上海市宝山区,在中山,深圳设有研发中心,占地1000平方米,现有员工50余人。
公司创始团队来自国内顶尖高校,科研院所及海外知名镀膜企业,其中光学薄膜博士2名,我们专注于 半导体和光学薄膜工艺的开发,依托多类型先进的镀膜设备(Vecco Spectra/离子束溅射镀膜,北方华创 B630/真空蒸发镀膜,Ulvac/连续式磁控溅射镀膜,Optorun OWLS磁控溅射镀膜,Beneq/原子层沉积),先 进的检测设备(SEM,AFM,四探针,椭偏仪,Agilent Cary 7000,Zygo MST干涉仪),我们为半导体,消 费电子,AR/VR,仪器,激光雷达等领域提供可靠的,性能卓越的镀膜服务

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